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关于在电子显微镜下分析烧结工艺(2/2)

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  当然,这个作用也是很明显的。

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  最后表示,作者写得很不错了,作为一本涉及到诸多行业、非常考校功夫的作品,能大致靠谱,就是很了不起的。这些问题其实不太影响阅读感受,读者还是看故事的。

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  “娜迪雅”书友补充:

  我也正想说这点,给楼主抢先了。

  对一个颗粒一层层原位剥离现在是可以,但据我所知这是刚出来的新技术。

  而如果只是用电子探针,那么只能分析颗粒表面很薄一层的元素含量,体相的变化是不知道的。

  光谱分析一颗颗粒恐怕不够。

  另外由表征倒推工艺作者说的太玄,我就是相关行业的,这种事有,但并不那么容易。表征的结果毕竟是微观的,做出的产品是宏观的,将大小相差那么多数量级的微观和宏观相关联并不是简单的事。

  一点楼主已经说了,表征的结果只能告诉你要做到什么地步,但怎么才能做到,这是一个问题。另外还有一点就是实际工作中往往并不见得知道那么多表征结果中,到底哪个是关键的地方。

  譬如楼主说了,电镜观察到晶粒是600nm,但是元素分析结果颗粒中Si含量XX、Al含量XX,某稀土含量几个ppm,另外一个稀土含量几个ppm。XRD分析颗粒中氧化物是出于一种特别的结晶态,等等等等。你知道哪个是决定产品质量的关键因素?

  也许你会说,一个条件一个条件试过去好了,有的时候确实可以,但有的时候做个条件花的时间是很长的,一个个试并不现实。

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